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　　紙張厚度測(cè)定儀，顧名思義，是一種專門測(cè)定紙張厚度的儀器，又稱為紙張測(cè)厚儀、紙張厚度儀等，該儀器適用于紙張、紙板、薄膜及其他片狀材料進(jìn)行厚度的精確測(cè)量。市面上的測(cè)厚儀品類眾多，從測(cè)試原理上劃分有很多種，在此，我們以機(jī)械接觸式測(cè)試原理的紙張厚度測(cè)定儀為例進(jìn)行介紹。
　　紙張厚度測(cè)定儀是一款高精度、高重復(fù)性的機(jī)械接觸式精密測(cè)厚儀，專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測(cè)量。可選配自動(dòng)進(jìn)樣機(jī)，更加準(zhǔn)確、高效的進(jìn)行連續(xù)多點(diǎn)測(cè)量。
　　其測(cè)試原理或試驗(yàn)過(guò)程為：將預(yù)先處理好的薄型試樣的一面置于下測(cè)量面上，與下測(cè)量面平行且中心對(duì)齊的上測(cè)量面，以一定的壓力，落到薄型試樣的另一面上，同測(cè)量頭一體的傳感器自動(dòng)檢測(cè)出上下測(cè)量面之間的距離，即為薄型試樣的厚度。
機(jī)械接觸式紙張厚度測(cè)定儀的應(yīng)用范圍介紹：
　　薄膜、薄片——各種塑料薄膜、薄片、隔膜等的厚度測(cè)定
　　紙——各種紙張、紙板、復(fù)合紙板等的厚度測(cè)定
　　金屬片、硅片——硅片、箔片、各種金屬片等的厚度測(cè)定
　　瓦楞紙板——瓦楞紙板的厚度測(cè)定
　　紡織材料——各類紡織材料如編織織物、針織物、涂層織物等的厚度測(cè)定
　　非織造布——各類非織造布如尿不濕、衛(wèi)生巾、醫(yī)用口罩等的厚度測(cè)定
　　其它材料——固體電絕緣材料、膠黏帶、土工合成材料、橡膠等的厚度測(cè)定
機(jī)械接觸式紙張厚度測(cè)定儀的主要技術(shù)參數(shù)舉例：
　　儀器型號(hào)：C640H測(cè)厚儀，品牌Labthink蘭光
　　測(cè)試范圍：0～2mm（標(biāo)配）；0～6、0～12mm（選配）
　　分辨率：0.1μm；重復(fù)性：0.4μm
　　測(cè)量間距：0～1000mm（可設(shè)定）
　　進(jìn)樣速度：1.5～80mm/s（可設(shè)定）
　　測(cè)量壓力及接觸面積：薄膜17.5±1 kPa、50 mm2；
　　紙張100±1 kPa(標(biāo)準(zhǔn)配置) / 50±1 kPa（可選配置）、200 mm2