薄膜測厚儀的相關(guān)知識及測試原理標(biāo)準(zhǔn)介紹

薄膜測厚儀的相關(guān)知識及測試原理標(biāo)準(zhǔn)介紹

　　薄膜測厚儀，顧名思義為用于塑料薄膜材料的厚度檢測的專業(yè)測量儀器。其名稱為“薄膜測厚儀”，行業(yè)中又被稱為薄膜厚度測量儀、薄膜厚度儀、薄膜厚度測試儀等等。一般來說，儀器能夠測量的材料包括：塑料薄膜、薄片、塑料片材、鋁箔、銅箔、電池隔膜、紙張、紙板等材料的厚度。

　　從薄膜厚度測量方式不同的角度來劃分，薄膜測厚儀可分為接觸式和非接觸式兩種，即測量薄膜厚度時儀器是否接觸到測試樣品本身。

　　Labthink蘭光（濟(jì)南蘭光機(jī)電技術(shù)有限公司）始創(chuàng)于1989年，是一家專業(yè)從事軟包裝檢測儀器的研發(fā)、生產(chǎn)與銷售于一體的技術(shù)型企業(yè)，為數(shù)萬家客戶提供專業(yè)全面的產(chǎn)品品質(zhì)控制解決方案！公司自主研發(fā)生產(chǎn)的“C640薄膜測厚儀”，是一款高精度、高重復(fù)性的機(jī)械接觸式精密測厚儀，專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測量。該儀器嚴(yán)格按照相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計制造，采用機(jī)械接觸式測試原理，非常適合薄膜材料進(jìn)行厚度的高精度測量，是企業(yè)進(jìn)行產(chǎn)品厚度技術(shù)指標(biāo)質(zhì)量控制的*儀器。

　　C640薄膜測厚儀是在Labthink不斷的創(chuàng)新研發(fā)和技術(shù)積累中推陳出新的一款新型測厚儀，使用超高精度的位移傳感器、科學(xué)的結(jié)構(gòu)布局及專業(yè)的控制技術(shù)，實現(xiàn)*測試穩(wěn)定性、重復(fù)性及精度。可選配自動進(jìn)樣機(jī)，更加準(zhǔn)確、高效的進(jìn)行連續(xù)多點測量。

　　儀器的測試原理為：將預(yù)先處理好的薄型試樣的一面置于下測量面上，與下測量面平行且中心對齊的上測量面，以一定的壓力，落到薄型試樣的另一面上，同測量頭一體的傳感器自動檢測出上下測量面之間的距離，即為薄型試樣的厚度。

　　如需了解設(shè)備的詳細(xì)技術(shù)參數(shù)和報價情況，可直接致電濟(jì)南蘭光咨詢或網(wǎng)站留言！Labthink蘭光，致力于通過包裝檢測技術(shù)提升和檢測儀器研發(fā)幫助客戶應(yīng)對包裝難題，助力包裝相關(guān)產(chǎn)業(yè)的品質(zhì)安全。